Bruker microCT SkyScan 1172是多用途X射线显微断层扫描成像系统，主要用于离体高分辨率三维成像和分析。创新的灵活几何构造使得SkyScan 1172设备的X光源，样品台和相机之间距离动态可调整，从而将空间分辨率、图像质量、可容纳的样品尺寸和扫描速度很好的组合在一起。相比于其它光源—检测器固定设计的microCT系统，扫描速度提高了好几倍，并且同时获取的图片质量更好。1100万像素大尺寸X射线相机CCD保证了在不牺牲扫描样品尺寸的基础上获取超高空间分辨率。

规格参数：

X射线源：        20-100kV，10W，<5μm微焦斑/ 20-80kV，8W，<8μm微焦斑

X射线探测器：    1100万像素CCD,12bit,光纤耦合闪烁体

最大样品尺寸：    直径27mm（单次扫描）/直径50mm（offset扫描）

空间分辨率：      最高0.5μm

重构：            分层（InstaRecon®）和GPU加速FDK重构

可选配样品台：    微定位平台、冷却/加热平台、压力/张力平台

辐射安全：        仪器表面任一点<1μSv/h

应用领域：生物医学、材料科学、电子、地质、钻石、木材、造纸、种子等